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  • Metal Impurities in Silicon- And Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact (Paperback, Softcover Repri)
  • Eddy Simoen, Cor Claeys
  • Springer | 2019년 01월
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  • Extended Defects in Germanium: Fundamental and Technological Aspects (Paperback)
  • Eddy Simoen, Cor Claeys
  • Springer | 2010년 11월
  • 233,680원 (18% 할인 / 11,690원)
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  • Metal Impurities in Silicon- And Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact (Hardcover, 2018)
  • Eddy Simoen, Cor Claeys
  • Springer | 2018년 08월
  • 283,380원 (18% 할인 / 14,170원)
  • 택배로 주문하면 11월 22일 출고 변경
  • Extended Defects in Germanium: Fundamental and Technological Aspects (Hardcover)
  • Eddy Simoen, Cor Claeys
  • Springer Verlag | 2009년 02월
  • 233,680원 (18% 할인 / 11,690원)
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