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  • Beam Diagnostics in Superconducting Accelerating Cavities: The Extraction of Transverse Beam Position from Beam-Excited Higher Order Modes (Paperback, Softcover Repri)
  • Pei Zhang
  • Springer | 2016년 08월
  • 165,590원 (18% 할인 / 8,280원)
  • 택배로 주문하면 12월 5일 출고 변경
  • Beam Diagnostics in Superconducting Accelerating Cavities: The Extraction of Transverse Beam Position from Beam-Excited Higher Order Modes (Hardcover, 2013) - The Extraction of Transverse Beam Position from Beam-excired Higher Order Modes
  • Pei Zhang
  • Springer Verlag | 2013년 08월
  • 165,590원 (18% 할인 / 8,280원)
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